X射线光电子能谱(XPS)表面分析测试通过元素含量与价态对比，有效评估封装基板表面工艺处理效果，并精准检测器件表面污染情况，提供可靠的表面成分分析数据。

服务背景

快速无损检测_X射线能谱分析_专业第三方：

在半导体制造领域，材料表面纳米级的化学污染、氧化及元素偏析问题，已成为影响器件电性能、可靠性和工艺稳定性的关键瓶颈。

主要应用包括：

通过元素含量/价态对比封装基板表面工艺处理效果

通过元素含量/价态对比器件是否受到污染

测试案例

快速无损检测_X射线能谱分析_专业第三方：

封装基板通过不同plasma处理方式后表面元素对比：

正常线缆与失效线缆元素对比：