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微观晶体学表征_织构与晶界分析_基于EBSD
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更新时间:2026-03-25  |  阅读:130

详情介绍

服务内容

微观晶体学表征_织构与晶界分析_基于EBSD晶粒尺寸/形貌统计、极图与反极图(织构分析)、物相鉴定与分布成像、晶界类型(大角/小角、孪晶界)统计、晶体取向差、对比度图(内应力分布)。

服务范围

微观晶体学表征_织构与晶界分析_基于EBSD金属与合金织构分析、焊缝组织与性能评估、增材制造(3D打印)零件微观结构表征、半导体/光伏材料缺陷分析、地质矿物相鉴定、涂层/薄膜结晶质量评估等

检测项目

套餐名称

检测项目

测试标准

基础晶体学表征

晶体取向成像(IPF图)、晶粒尺寸/形貌统计、极图与反极图(织构分析)。(样品需导电,表面经抛光至镜面并轻微电解抛光或离子束抛光)

ASTM E2627

高级相与缺陷分析

包含套餐1所有项目,外加物相鉴定与分布成像、晶界类型(大角/小角、孪晶界)统计、局部取向差(KAM/GOS)应变分析。(制样要求高,需明确目标分析相)

ISO 24173:2024

金属与合金织构分析、焊缝组织与性能评估

微观织构(极图/反极图)、晶粒/亚晶组织分析、晶界类型与分布统计、局部应变映射、相分布(结合EDS)。(要求样品导电,尺寸适宜,分析面需抛光至镜面并去除应变层)

ISO 24173:2024

增材制造(3D打印)零件微观结构表征

打印路径/生长方向上的晶体取向分布、柱状晶/等轴晶统计、析出相与基体取向关系、熔池边界与热影响区表征。(需清晰标记建造方向BD,精细抛光测试区域)

ISO 24173:2024


测试周期

7个工作日

服务背景

随着“微观结构决定宏观性能"成为材料科学与工业界的共识,传统测试手段已无法满足对晶粒取向、相分布、缺陷等纳米级晶体学信息的需求。 EBSD技术应运而生,成为连接材料微观结构与宏观性能之间的“解码器"。如:

金属织构分析:直接服务于板材成型性、磁性材料性能等工业指标控制。

焊缝/增材制造评估:是工艺研发与优化的核心,解决各向异性、性能不均等痛点。

我们的优势

广电计量积极布局新型材料表面分析技术(EBSD)测试业务,引进国际前沿的测试技术,为功率半导体产业上下游企业提供器件全参数检测服务。同时,广电计量通过构筑检测认证与分析⼀体化平台,为客⼾提供器件可靠性验证及失效分析,帮助客户分析失效机理,指导产品设计及⼯艺改进。


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