服务范围

大规模集成电路芯片

检测项目

相关资质

CNAS

服务背景

汽车新“四化"要求更强大的芯片功能，同时，车规级集成电路的集成度日益提⾼，也使车规级半导体芯片结构和制造工艺也日益复杂。这对可靠性提出了更高的要求，也带来了更大的难度，集成电路更容易失效，但失效定位与根源分析却成为一大难题。大规模集成电路失效分析,汽车电路测试

我们的优势

广电计量聚焦大规模集成电路失效分析,汽车电路测试技术，拥有业界专家团队及先进的失效分析设备，可为客户提供完整的失效分析检测服务，帮助制造商快速准确地定位失效，找到失效根源。同时，我们可针对客⼾的研发需求，提供不同应⽤下的失效分析咨询、协助客户开展实验规划、以及分析测试服务，如配合客户开展NPI阶段验证，在量产阶段(MP)协助客户完成批次性失效分析。